AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗證的重要標準和指導文件，本文將重點對G組的第2項VFV - Variable Frequency Vibration變頻震動項目進行介紹。
AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容
VFV - Variable Frequency Vibration 變頻震動
我們先看一下表格中內(nèi)容的含義。
表格中信息介紹和解讀
表格中的信息給出，VFV的分類是G2，Notes中包含了H D G，也就是說要求密封器件、破壞性測試、承認通用數(shù)據(jù)。
需求的樣品數(shù)量是15pcs/Lot，來自1個批次。
接受標準是0失效；
參考文件是JEDEC JESD22-B103
附加需求：
在＞4分鐘的周期完成頻率從20hz到2khz再到20hz(對數(shù)變化)的變頻震動測試，每個方向4X, 50g峰值加速度。實驗前后要在室溫下TEST電性能測試。
我們來看一下JESD22-B103這個文件。
JESD22-B103B.01 Vibration, Variable Frequency
1 適用范圍
此方法用于評估用于電氣設備的零部件。它的目的是確保零部件可以承受由運輸或現(xiàn)場操作產(chǎn)生的運動所帶來的中等到嚴重振動的抵抗能力。這種類型的振動可能會干擾產(chǎn)品工作特性，特別是當重復震動應力引起疲勞時。這是一種用于零部件鑒定的破壞性測試。它通常適用于空腔型封裝。
2 設備
用于此測試的設備應包括能夠在規(guī)定的等級上提供所需的可變頻率振動的裝置，以及實驗后對產(chǎn)品測量所需的光學和電氣設備。
3 名詞和定義
3.1 RMS加速
動態(tài)運動加速度間隔的均方根平均值。
3.2 峰值加速度
動態(tài)運動加速度區(qū)間的最大值。
3.3 對數(shù)變化
以某種方式連續(xù)地改變頻率，以便在頻率范圍的任何部分內(nèi)，可以在固定長度的時間內(nèi)以固定數(shù)字的指數(shù)倍變化。
3.4 倍頻數(shù)
頻率變化的一種測量方法，其特征是頻率雙倍的變化。兩個頻率f1＜f2之間的倍頻數(shù)D
由D=(logf2/f1) / log2得出。
3.5 指數(shù)倍
頻率變化的一種測量方法，其特征是頻率10倍的變化。兩個頻率f1＜f2之間的倍頻數(shù)D
由D=(logf2/f1) / log10得出。
3.6 分貝測量PSD、dB
功率譜密度的測量，一個能級s1相對于另一個參考能級s2的比值R，由公式R = 20log (s1 / s2) / log 10給出。R=6dB大約是功率譜密度從一個能級到另一個能級的兩倍。
3.7 功率譜密度，PSD
單位頻率下加速度功率強度的測量，單位為G的2次方每赫茲（G^2/HZ）。
3.8 實驗條件
用于評估一個組件的測試的嚴重程度的名稱。
3.9 速度變化
動態(tài)運動的加速度區(qū)間在區(qū)間上的積分。
3.10 腔體封裝
一種位于把器件封裝到空腔內(nèi)的零部件。
3.11 峰值位移
動態(tài)運動區(qū)間的位移最大值和最小值之間的最大差值。
3.12 高斯隨機振動
加速度和頻率值在一段時間內(nèi)以隨機方式發(fā)生的振動，加速度值遵循正態(tài)(高斯)概率密度函數(shù)，頻率值遵循均勻分布。
4 驗證流程
4.1 部件選擇
接受測試的部件將隨機選擇并來自常規(guī)的生產(chǎn)產(chǎn)品。該部件應通過其外殼進行剛性安裝或約束，并為引腳提供適當?shù)谋Ｗo。如果要考慮部件的返工、老化或其他壓力驗證，則應在振動試驗之前對部件進行此類或多類的測試項目。在測試硬件的準備過程中開展這些壓力認證將記錄在測試結果中。
4.2 要求的應力應用-正弦變化測試
4.2.1 安裝部件
器件外殼應牢固地固定在振動平臺上，引腳應充分地固定，以避免引腳過度諧振。組件也將以這種方式安裝，以便它們在組件上完全接受到指定的振動水平。
4.2.2 振動應用
振動將應用于部件的外表面外殼或引腳，以模擬在非包裝運輸條件下預期的振動。器件的振動應與表1所示的測試認證級別相對應。必須指定至少一個使用條件。每個測試級別將包括連續(xù)掃頻的簡諧運動，標明的峰值位移低于交叉頻率，標明的峰值加速度高于交叉頻率。
對正在執(zhí)行的測試，無論是位移還是加速度，允許存在+/- 10%的公差。測試頻率范圍從標明的最小頻率到標明的最大測試頻率。測試頻率范圍的完整掃描，從最小到最大值，再返回到最小頻率，應以對數(shù)方式在4分鐘內(nèi)進行。變化速度為10倍/分鐘。
在X、Y、Z的每個方向上，這一完整的掃描應執(zhí)行4次(共12次)。如果在特定的頻率范圍內(nèi)(例如，在較低的頻率范圍內(nèi)，或在夾具不可控諧振的區(qū)域內(nèi))被測組件沒有顯著的應力敏感性，那么該頻率掃描部分可以從應力應用程序中刪除，但是要在最后的測試報告中寫出。
表格1 零部件測試級別
（編者注：根據(jù)AEC-Q100要求的測試內(nèi)容，并不在此列表中，AEC Q100要求在＞4分鐘的周期完成頻率從20hz到2khz再到20hz(對數(shù)變化)的變頻震動測試，每個方向4次, 50g峰值加速度。）
4.3 在AEC Q100文件中不涉及，所以略過，有興趣的朋友自行查看原文件。
4.4 測量
密封試驗，如適用，應進行目視檢查和電氣測量(包括參數(shù)和功能試驗)。
5 失效標準
如果試驗后不能證明產(chǎn)品密封性要求、超出參數(shù)限制或不能在適用的接受文件規(guī)定的條件下證明產(chǎn)品功能，則該部件應被定義為失效。
機械損傷，如破裂，切屑或破裂的封裝也將被認為是一種失效，只要這種損傷不是由夾具固定或轉(zhuǎn)運處理造成的，而且這種損傷對特定應用中的組件性能至關重要。
6 總結
下列細節(jié)應在適用的接受文件中規(guī)定:
a)測試對應的認證條件，針對所執(zhí)行的每次測試。
b)電氣測量和結果。
c)樣本量和接受數(shù)量。
d)失效產(chǎn)品的處理。
e)密封泄漏率(如果適用)。
f)安裝夾具的描述，組件是如何支撐的，施加在組件上的任何壓力。
g)組件的描述，如果適用，組件實驗前其他應力的歷史記錄。
h)描述應力測試的任何遺漏項，需要給出遺漏內(nèi)容的原因，以及描述為什么省略該應力測試并且不會對測試結果產(chǎn)生重大影響的原因。
本文對AEC-Q100 G組的第2項內(nèi)容VFV - Variable Frequency Vibration變頻震動實驗項目進行了介紹和解讀，希望對大家有所幫助。
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