個(gè)人覺得無(wú)論測(cè)試GS波形還是DS波形，最終的目的都是為了測(cè)試開關(guān)管的工作狀態(tài)是否符合預(yù)期的設(shè)計(jì)，這里談一下個(gè)人看法：

1.測(cè)試GS波形：由于GS波形容易受到電路初級(jí)側(cè)高壓大電流信號(hào)的干擾，測(cè)試GS波形除了驗(yàn)證開關(guān)管工作狀態(tài)外，還可以簡(jiǎn)單的評(píng)估PCB LAYOUT在干擾耦合方面的設(shè)計(jì)是否合理；同時(shí)測(cè)試GS波形還適用于手頭上沒有高壓探頭的場(chǎng)合；

2.測(cè)試DS波形：如果是高壓輸入的話，首先需要配備高壓探頭，個(gè)人習(xí)慣測(cè)試DS波形，因?yàn)闇y(cè)試DS波形除了能反應(yīng)開關(guān)管的占空比變化，還可以反應(yīng)出開關(guān)管的耐壓應(yīng)力測(cè)試，同時(shí)還可以反應(yīng)開關(guān)電源的工作狀態(tài)（DCM.CCM）等等；

以上純屬個(gè)人看法~

謝謝前輩。學(xué)到很多，我是看DS的。DS的波形看看管子能不能工作在這個(gè)電路。其次是工作狀態(tài)好不好，在著可以看看變壓器有沒有做好。頻率《死區(qū)》是否合適變壓器。DS的波形可不可以，前輩我不會(huì)看GS的波形，不知道GS的那種波形合適。前輩可不可以費(fèi)心再舉例詳說(shuō)。小弟先謝謝前輩

關(guān)于GS波形的測(cè)試，我一般是按照MOS管芯片的規(guī)格書中的推薦指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試，另外，大部分MOS管芯片的規(guī)格書中應(yīng)該都會(huì)有GS測(cè)試波形工作狀態(tài)這張測(cè)試圖，你完全可以按照規(guī)格書中的條件進(jìn)行測(cè)試，看是否符合規(guī)格書中的測(cè)試指標(biāo)即可。

此外，測(cè)試GS波形時(shí)除了測(cè)試正常工作外，建議上電，斷電等工作狀態(tài)也測(cè)試一下。

這是最近寫的主題帖 

http://m.zjkrx.cn/bbs/1510078.html

你看一下264樓，我用的是PI 公司的TOP246Y芯片，測(cè)試的GS波形包括上電、正常工作、斷電打嗝式重啟、掉電4個(gè)過程的工作波形，和規(guī)格書中的工作狀態(tài)完全一致，不過我這里沒有太關(guān)心GS波形的信號(hào)質(zhì)量，這個(gè)其實(shí)也是需要重點(diǎn)關(guān)心的。