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雪崩一般會從高壓產(chǎn)生的大能量或瞬間結溫上對MOS進行失效分析。樓主是否能描述下推導過程學習一下啊，感謝！

樓主總結的很詳細，很到位??！

很詳細啊，還有附件可以直接下載。樓主想的真周到。[圖片]

強烈要求樓主上傳整張圖片啊

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電子模擬負載。檢測充電器各項性能都正常后再換真機。

去除電流檢測時的雜訊，這樣IC可以得到一個比較精準的電流信號，所以不能去掉。如果去掉了當然是不會影響芯片和電源工作的，但芯片對電流的檢測就不準了，你可以模擬去除該電容前后的過流保護點測試，結果應該就不一樣了。