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關(guān)于3500V的雷擊試驗(yàn)損壞!

小弟目前有一款A(yù)C-DC反激電源,在過(guò)3500V雷擊試驗(yàn)時(shí),共模測(cè)試發(fā)現(xiàn)保險(xiǎn)絲、功率管、芯片全炸!芯片本身可以過(guò)2500VESD測(cè)試,請(qǐng)問可能是什么原因?
有沒有可能由于AC共模輸入部分不匹配,造成共模電壓轉(zhuǎn)成了差模電壓而導(dǎo)致電源損壞!
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