我公司從事鎳氫充電器方案開發(fā)及控制板生產(chǎn),在生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn),目前大多數(shù)公司的測試采用的方法是在控制板生產(chǎn)完成后,對線路板上的一些關(guān)鍵點的電壓進行測試,然后測試涓流,恒流及充飽電流,同時測試顯示是否正常;這些做完后就裝機進行整機老化測試,完成后即認(rèn)為產(chǎn)品合格.可我認(rèn)為此種測試方法存在一定隱患,因為在整個過程中沒有測試是否可以檢測到-DELT V;仔細(xì)計算一下,如果芯片端口由1微安的漏電,通過采樣10K的采樣電阻就已經(jīng)有10mV的壓降,如果將采樣電阻換小為1K有可能出現(xiàn)在采樣端電壓過沖是對芯片電源的反灌.這樣實際有可能造成使用時充電器變成只靠時間進行停止.雖說這個比例非常小,但是這種隱患是存在的,所以請問各位有沒有什么行之有效的方法可以使生產(chǎn)時的測試更趨于完善.