電解電容紋波試驗(yàn)
想
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@chinabuildchen
哦原來這樣啊.
想做整流開關(guān)試驗(yàn),30S充電,30S放電,不知道下列那種接法的嚴(yán)酷度更高點(diǎn)?
圖片在附件中,放電電阻具放在哪個(gè)位置對(duì)電容更具有考驗(yàn)性呢? 2477111254123585.xls
圖片在附件中,放電電阻具放在哪個(gè)位置對(duì)電容更具有考驗(yàn)性呢? 2477111254123585.xls
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@chinabuildchen
嚴(yán)酷度B>A>C所以B對(duì)電容更具考驗(yàn)
B電路,如果換電容,或者電容數(shù)量有變化,條件就會(huì)不一樣.只有A、C無論電容是多大的,多少個(gè),條件都是一致的.
關(guān)于沒有放電電阻,我已設(shè)置成充放電,這樣應(yīng)該比較好,如果沒有充放電開關(guān),那么肯定是B最嚴(yán).
A模式的話,充放電沒有放電電阻,那么充放電應(yīng)該不會(huì)起作用,所以只能C或者B了,B的話應(yīng)該就只能做對(duì)比試驗(yàn)了.
關(guān)于沒有放電電阻,我已設(shè)置成充放電,這樣應(yīng)該比較好,如果沒有充放電開關(guān),那么肯定是B最嚴(yán).
A模式的話,充放電沒有放電電阻,那么充放電應(yīng)該不會(huì)起作用,所以只能C或者B了,B的話應(yīng)該就只能做對(duì)比試驗(yàn)了.
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