我也碰到過類似問題,主繞組多一圈和少一圈,用綜合測試儀測不出來.不過主繞過組多一圈和少一圈問題應該不大?

就看你用什么樣的IC..我最近用了一款電流型控制的IC...搞死我...

俺得先知道,
你的圈數(shù)是幾比幾的?
量測電壓、頻率?
EE core還是EL core還是....?

不管什么規(guī)格的磁芯都一樣,電壓比和圈比都測不出來. 不知哪位有更高明的方法?或測試儀.

樓主說的問題可以通過WK3260A/B 或VO..ATI均可以測試出來呀 測試C Z LK TR IL RL ATT THD...功能均可檢測得到.若還沒有處理OK請加QQ:313898543  ,樓主若覺得回復得還可以的話請按游戲約定先加點分撒
要不下面就沒有人再會回復本話題了 對了兄弟姐妹們.

似乎都沒有說到點子上啊,針對此問題有的某些變壓器是不能一慨而論的.

這個是有原理、有公式的不是隨便定的,首先你德清楚,再者和CORE也沒有直接的關系,主要是變壓器設計的問題.

如果從原理方面來分析或許會更清楚些!

下面我說說我的看法:
1) 如Core有研磨去測試的話,會不準(也就是會有一定的公差),如沒有研磨的話會很準的.
這時測圈數(shù)應用沒有磨Core去測試(因加有氣隙,有效磁路長會改變),還有就是在產(chǎn)品身上自己繞一圈上去,在去測試主繞組的圈數(shù)(也就是利用電磁感應定律).
2) 如主繞組圈數(shù)很多,又是變壓器的話,那只有用沒有研磨的Core去測試.
現(xiàn)在儀器上設定主繞組的圈數(shù),再去感應測試其它繞組的,當然在測試之前應確定主繞組不應錯,那就可以用一圈去感應測試.如是綜合測試儀的話,就採取SPC的統(tǒng)計手段,用200EA或更多的測試數(shù)據(jù)能設定上下限(這數(shù)據(jù)的真實性要確認)
3) 如是電感的話,測試手段大致和上述一樣.
4) 還有一種就是兩線并繞或以上的,某一根線少拉一圈那就很難測試喔.
這個時候,可以測試Q值或單線去測試..
拙見.

再好的圈數(shù)測試儀也會有誤差的
最準確的方法
組成變壓器
輸入低壓(磁密要低)
測試空載電壓
然后就是匝比計算啦....

至少我們公司對圈數(shù)要求比較高的產(chǎn)品(醫(yī)療類的),目前是這樣測試的

另: 樓主
你都幾分了啊?
該帖懸賞積分+30 ???
有點欺騙“消費者”的嫌疑...

如果僅僅是為了吸引他人“眼球”的話
我想就不必了
因為
真正的高手
不會因為你懸賞多少分
而考慮要不要回答你的疑問...

呼吁
提高個人“修養(yǎng)”
杜絕“不文明”現(xiàn)象

用儀器測出來的值都有個誤差范圍,有些主圈數(shù)多一圈或少一圈,測出來的值也會在你設定的上下限范圍內(nèi).用沒有研磨的也是如此.

如果是EE,EI,ER等E型的,如Core沒有研磨的話,在測試圈數(shù)時如方法正確的話是不會測不準的.

你可以將次級線圈的測試范圍調(diào)到初級線圈多一圈或少一圈就能測試出來的范圍就行了.

變壓器主圈數(shù)在110圈以上的,主圈數(shù)多一圈少一圈對產(chǎn)品沒什么太大的影響吧

拜託, 圈數(shù)怎么可能多一圈少一圈呢(不管是主圈數(shù)還是什麼)

說的有道理,理論上也可以計算出來,但是實際上測試是OK的,數(shù)據(jù)在范圍之內(nèi),沒有再壓縮的可能了,我們有專門的不良樣品,就主繞組的測試不出來(單測的.儀器可以測試出來,3250就不行)

我也碰到過類似問題,也還沒有找到有效的解決方法,
在此學習學習.

我想你是用三明治繞法吧?初級分兩次繞,哪你的參考繞組應用其中一個,不要用兩個繞組相加做參考繞組的匝數(shù),一般降壓的變壓器,兩個初級中的任一個匝數(shù)都不少,都可做參考繞組.

有道理,這樣可以在排除一種可能!

我就遇到了這問題，ER28  core有研磨的  圈比測不出來  正在用沒有研磨的core去測試  太費工時了！

請各位 電子高手 加 246903219  共同討論 以后有關電子問題

是啊