雙脈沖測(cè)量SiC MOSFET的開(kāi)關(guān)特性，由于測(cè)量漏源極電壓的差分探頭和測(cè)量漏極電流的電流探頭Agilent N2782B存在幾個(gè)ns的信號(hào)傳輸延時(shí)，在測(cè)量波形和計(jì)算開(kāi)關(guān)損耗時(shí)，需要補(bǔ)償兩個(gè)測(cè)量探頭因?yàn)樾盘?hào)傳輸延時(shí)造成的幾個(gè)ns的相位差。現(xiàn)已查到差分探頭的信號(hào)延時(shí)時(shí)間，查找Agilent N2782B的信號(hào)延時(shí)，從用戶(hù)手冊(cè)、網(wǎng)上搜索都未得到。請(qǐng)知道的大神告知