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Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)

Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)

主要特色:
提供全方位電性測試 (200V/2A) ,可滿足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)128度)半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測設(shè)備特製Edge Sensor具有點(diǎn)測針壓穩(wěn)定,無疲乏與針壓變動(dòng)問題機(jī)械視覺定位系統(tǒng),縮短人工操作時(shí)間自動(dòng)抽測功能彈性調(diào)整的軟體操作界面快速芯片掃描系統(tǒng)自動(dòng)破片掃描演算法遮光罩設(shè)計(jì),杜絕背景光干擾即時(shí)顯示點(diǎn)測資料分佈圖完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分析工具

硬體設(shè)備

自動(dòng)化 LED wafer/chip 點(diǎn)測設(shè)備漏電流測試模組電源量測單元光學(xué)測試模組ESD 測試模組 (選配)

Chroma 58173 是一組全新獨(dú)特的量測 LED 全光通量之自動(dòng)化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測試生產(chǎn)線中,常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1)。然而,傳統(tǒng)的方式存在一些缺點(diǎn),例如:準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測試時(shí)間較長等,以致於導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生產(chǎn)線時(shí)會(huì)發(fā)生問題。

致茂研發(fā)出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創(chuàng)新的量測方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通量,也明顯的改善提升了量測精確度。

在光學(xué)量測方面,主波長、峰波長、色溫等均可透過致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得精確且穩(wěn)定快速之?dāng)?shù)據(jù);在機(jī)構(gòu)方面,58173 搭載一個(gè)6吋的晶片載盤與校正基座,提供使用者一個(gè)完整的校正與測試平臺(tái);在電性測試方面,58173 則具備完整之電源量測單元,無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可於一次滿足使用者的測試需求。

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