看了你的內(nèi)容,如果是CORE組立后的話,主要相關(guān)因素是接合面(組立面)平坦度以及GAP量的變化,如果碰到CORE電感就變化的話,根據(jù)經(jīng)驗(yàn)一般有兩種可能:
1、產(chǎn)品接合面未處于同一水平面,即是說有二重研磨的現(xiàn)象,由于CORE外部受力而使接觸面積發(fā)生變化.
2、接合面如果平坦度差的話,也容易因?yàn)橥獠渴芰Χ箤?shí)際接觸面積發(fā)生變化.
另外,如果CORE有GAP量的話還要考慮間隙是否以近超出COIL的范圍以及GAP量是否存在偏差,因?yàn)槿绻旧鞧AP量小的產(chǎn)品,這種現(xiàn)象對電感影響很大.
當(dāng)然產(chǎn)品組立后穩(wěn)定性也很重要,如果產(chǎn)品未能緊密裝配,那么受力就會發(fā)生錯位現(xiàn)象,實(shí)際接觸面積小了,那么電感必然就會降低.
呵呵,一些小小的看法,專家看到了不要嘲笑我哦~~

非常感謝!
但是我還是不理解:為什么測出來的數(shù)據(jù)L值大的而LOA反而小呢?因?yàn)楦鶕?jù)規(guī)格要求:L值為220μH±20%,L(0.22A)為0.7L 為最小值,如:測得L1=230μH,L1(0.22A)=0.7L=0.7*230=161μH;L2=200μH,L2(0.22A)=140μH,則L1(0.22A)>L2(0.22A);而實(shí)測中L1(0.22A)如果你有電感異常處理和設(shè)計(jì)方面的資料,麻煩你傳一份給我,先感謝了!我的郵箱是:MZZHEN@163.COM

呵呵,能不能把測定的條件給出來一下.
測定頻率以及L1的加載電流,最好能夠有產(chǎn)品的材質(zhì).
雖然現(xiàn)在不是很確定,但是這種情況你可以對比確認(rèn)一下兩個產(chǎn)品的中柱狀態(tài),推斷其中一個可能有傾斜的現(xiàn)象.還有,如果條件允許,你可以將產(chǎn)品沿寬度的1/2處切開看看是否有內(nèi)部裂紋的現(xiàn)象.

很高興收到你的回復(fù)!謝謝!
測試條件是100KHZ,0.1V;加電流是0.22A.材質(zhì)是好象是鐵素體,確定的要明天去上班看了才知道.

呵呵,大概了解一下情況了.
這種情況很正常,雖然電感差大小存在差異,但是加載電流情況下更受產(chǎn)品實(shí)際狀態(tài)的影響,就比如我所提出的中柱狀態(tài)及內(nèi)部裂紋是否存在的影響.還有就是產(chǎn)品組立后兩足是否存在間隙現(xiàn)象.
很多產(chǎn)品都有這方面的規(guī)格要求的,但是至于規(guī)格的制定我就不太清楚了.說起來慚愧,我這里只負(fù)責(zé)磁芯制造,也就是努力將產(chǎn)品做到客戶要求的規(guī)格,用途方面就不是很清楚了.
關(guān)于資料方面,明天我到公司看看.如果有的話再傳給你了.

GAP有差異:L0A小時表明GAP大,抗飽和更好!
建義:如果有可能的話可增加匝數(shù),也就是GAP可增大些,這樣L0.22A一定沒問題!

非常感謝!
今天上班確定了一下,CORE的材質(zhì)是鐵氧體.CORE是工字形的,里面軸的直徑是2.0±0.1,CORE的底部直徑是4.2±0.1,高是1.0±0.1,單位是mm.所以繞線面積很小,間隙很難控制.圈數(shù)可以加或減,但是加圈的話,繞好線以后,磁帽和CORE裝配不行.
今天我問了一下我的同事,他說,線碰到磁帽的話,L0.22就不行.我覺得他說得有道理,但是我不知道是為什么是這樣,加電流電感究竟跟哪些因素有關(guān)?所以還是要請教各位師傅!

非常感謝!
還請你以后多多指教我!

正如六兄所說的,主要就是組立的兩個產(chǎn)品見的間隙問題.
所以建議還是變更產(chǎn)品電感規(guī)格了(100T條件下).

我今天又遇到同樣的問題:La偏低,現(xiàn)在重新看你的回復(fù),有一點(diǎn)疑點(diǎn)請教:為什么增加匝數(shù),GAP反而增大而不是減小?因?yàn)槲蚁刖€包增大了,那GAP不是變小了嗎?我的這個想法,對嗎?

匝數(shù)加多要得到相同電感當(dāng)然是加大gap使AL變小!加大gap后抗飽和更好!

謝謝!
可是AL值不是固定的嗎?

改變gap就可以改變AL值了!

謝謝!

謝謝!