當(dāng)A/D將模擬量轉(zhuǎn)化成數(shù)字量的時(shí)候,對(duì)于直流輸入需要計(jì)算平均值嗎???
轉(zhuǎn)化完成后,不就可以和自己設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)值比較了嗎???
當(dāng)A/D將模擬量轉(zhuǎn)化成數(shù)字量的時(shí)候,需要計(jì)算平均值嗎???
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@great
對(duì)量化后的數(shù)值進(jìn)行均值處理只是抗干擾的一種方法,也是一般應(yīng)用的,不過這得根據(jù)你的實(shí)際系統(tǒng)來考慮,因?yàn)樵黾硬蓸又稻蜁?huì)加大對(duì)A/D轉(zhuǎn)換器的速度要求,增加成本,在一些功率變換器的控制中,實(shí)際上不進(jìn)行均值處理對(duì)你的系統(tǒng)性能影響不大,除非你是做高精密電源.
由于AD采樣不可比避免的會(huì)受到外部的干擾,對(duì)于一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)反饋通道的精度決定了系統(tǒng)的精度.同時(shí)在電源系統(tǒng)中,過流保護(hù)如果僅僅依靠一次的采樣值進(jìn)行判斷可能會(huì)出現(xiàn)誤動(dòng)作.歡迎繼續(xù)探討.
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@taolei
由于AD采樣不可比避免的會(huì)受到外部的干擾,對(duì)于一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)反饋通道的精度決定了系統(tǒng)的精度.同時(shí)在電源系統(tǒng)中,過流保護(hù)如果僅僅依靠一次的采樣值進(jìn)行判斷可能會(huì)出現(xiàn)誤動(dòng)作.歡迎繼續(xù)探討.
那也得看情況吧,在電源系統(tǒng)中,有的信號(hào)根本不可能去采樣10次,比如開關(guān)電流波形,那你的A/D得多快呀,也就不會(huì)出現(xiàn)像單周期單點(diǎn)采樣的采樣算法了,當(dāng)然像輸出電壓這類低頻信號(hào)一周期可以采樣多次.
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@一個(gè)好人
不用了,剛出來時(shí),我做智能充,那時(shí)帶A/D口的單片機(jī)特貴,不象現(xiàn)在三塊多錢就能搞定,我只好用LM324做A/D口,精度不高,又怕單片機(jī)檢測(cè)失誤,就一直采用這個(gè)辦法,很不錯(cuò)啊!!!
做dc的采樣應(yīng)該是夠了,我就是不能用LM324啊,要用mcu完成所有的電壓比較,做uvp,ovp及均充和浮充的控制!有沒有簡(jiǎn)單一點(diǎn)的求平均值程序,我現(xiàn)在是用別人的平均值求法,覺得太長(zhǎng)了,而且不是很懂,能不能教小蝦米一下!
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@great
實(shí)際電源系統(tǒng)中,當(dāng)然是對(duì)高頻信號(hào)采樣次數(shù)越多越好,按你說的,那樣更接近于實(shí)際值,比如說開關(guān)電流,可事實(shí)是我們需要采樣多次的信號(hào),實(shí)際中往往不可能進(jìn)行多次采樣,而對(duì)于輸出電壓這類低頻信號(hào),一個(gè)周期采樣的次數(shù)再多也沒什么意義
我說的不是一個(gè)信號(hào)的整個(gè)周期的采樣,而是在一個(gè)點(diǎn)的多次采樣然后取平均作為一次的值.你所說的一個(gè)周期的采樣只要符合香農(nóng)定理就可以了.
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@great
對(duì)量化后的數(shù)值進(jìn)行均值處理只是抗干擾的一種方法,也是一般應(yīng)用的,不過這得根據(jù)你的實(shí)際系統(tǒng)來考慮,因?yàn)樵黾硬蓸又稻蜁?huì)加大對(duì)A/D轉(zhuǎn)換器的速度要求,增加成本,在一些功率變換器的控制中,實(shí)際上不進(jìn)行均值處理對(duì)你的系統(tǒng)性能影響不大,除非你是做高精密電源.
我想問問,如果我要對(duì)輸出采樣,怎么做?會(huì)不會(huì)設(shè)計(jì)到一次側(cè)跟二次側(cè)在芯片這里相矛盾的問題啊?
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